Zeitschriftenartikel:
Y. Hernandez, B. Stampfer, T. Grasser, M. Waltl:
"Impact of Bias Temperature Instabilities on the Performance of Logic Inverter Circuits Using Different SiC Transistor Technologies";
Crystals,
11
(2021),
9;
S. 1150-1
- 1150-9.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.3390/cryst11091150
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/JB2021_Hernandez_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.