Zeitschriftenartikel:
J. Ender, R. Orio, S. Fiorentini, S. Selberherr, W. Goes, V. Sverdlov:
"Improving Failure Rates in Pulsed SOT-MRAM Switching by Reinforcement Learning";
Microelectronics Reliability,
126
(2021),
S. 114231-1
- 114231-5.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114231
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/JB2021_Ender_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.