Zeitschriftenartikel:
J. Michl, A. Grill, D. Waldhör, W. Goes, B. Kaczer, D. Linten, B. Parvais, B. Govoreanu, I. Radu, T. Grasser, M. Waltl:
"Efficient Modeling of Charge Trapping at Cryogenic Temperatures-Part II: Experimental";
IEEE Transactions on Electron Devices,
68
(2021),
12;
S. 6372
- 6378.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2021.3117740
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/JB2021_Michl_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.