Zeitschriftenartikel:
M. Waltl, D. Waldhör, K. Tselios, B. Stampfer, C. Schleich, G. Rzepa, H. Enichlmair, E. Ioannidis, R. Minixhofer, T. Grasser:
"Impact of Single-Defects on the Variability of CMOS Inverter Circuits";
Microelectronics Reliability,
126
(2021),
S. 114275-1
- 114275-6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114275
Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2021/JB2021_Waltl_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.